浅谈集成电路的测试技术

集成电路测试是保证集成电路质量、发展的关键手段。该文从集成电路测试的过程概述性地介绍了集成电路的测试技术和集成电路的自动测试系统。     

模拟集成电路测试系统软件分析

介绍模拟集成电路的硬件结构，并对直接程序编程和页表式程序编程进行了讨论，文中着重介绍用Ｔｕｒｂｏ Ｃ语言进行编程的基本测试软件包，并举例说明。     

集成电路逻辑测试与验证基础技术研究

集成电路是电子工业的粮食，是信息产业的基础。集成电路技术迅速发展创造出巨额效益，大幅度提升了人们的生活品质。据统计，现代城市家庭平均拥有20块集成电路：电冰箱、洗衣机、微波炉、照相机、摄像机、移动电话、家用电脑、家用轿车等等无处不在。集成电路的质量关系到千家万户。     

超大规模集成电路（VLSI）制造技术

在通往信息社会的道路上,以VLSI为主体的微电子工业是居功至伟的前哨,也是“信息技术链”循环前进的动力和源泉。事实证明,微电子工业已经成为与钢铁、能源、化工工业同等重要,甚至在未来发展中超过这些支柱工业,成为具有战略意义的国家命脉工业。 一、VLSI制造技术的特征 自从1952年英国雷达研究所的达默提出集成电路的思想,到1958年美国德克萨斯仪器公司的J·S·基尔比和仙童公司的A·J·赫尔尼使用平面制作工艺     

基于PIC单片机的集成电路测试系统设计

本文基于PIC16F877A单片机,设计并实现了一种数字集成电路测试系统,该系统能够对74HC138译码器的主要参数和逻辑功能进行测试。     

集成电路设计,验证,测试系统的研究

本文对“ＬＳＩ／ＶＬＳＩ设计、验证、测试系统”进行了理论总结,文中分别阐述了该系统中的设计子系统、验证子系统和测试子系统,以及它们所包含的软件概况和主要技术成果。     

半导体大规模集成电路的测试原理及方法

文章使用c 程序语言控制测试设备,对封装好的芯片进行直流特性测试、功能测试以及交流特性测试。测试工程中被测芯片的收率和产品流转周期是产业效益两大要素,所以当测试产品出现不良时最关键的就是要找出不良发生在封装工程的哪道工序,以便及时有效地对被测芯片进行不良分析,提高产品收率和产品效益。     

大规模集成电路测试技术

本文主要介绍了在大规模集成电路中,必须考虑的电路测试技术的一些设计方法,同时论述了对集成电路芯片功能测试的实现以及用计算机系统对芯片测试的方法。     

射频集成电路与技术

射频集成电路是所有无线通信系统中不可或缺的部分，因此具有巨大的市场背景；射频技术是整个无线系统中的技术难点，具有重要的研究意义。该书针对射频集成电路与技术进行了全面而概括的论述，使得读者可以对整个射频系统具有全面的认识。     

利用8098单片机实现对数字集成电路的测试诊断

介绍了利用８０９８单片机和其它接口芯片，实现对数字集成电路进行测试诊断的原理和方法。阐述了诊断电路的硬件与软件设计及模拟工作环境的建立。     

集成电路金属互连焦耳热效应的测试与修正

采用拟合的方法,并利用DESTIN测试系统,研究了集成电路金属布线电阻与温度的关系：探讨了不同材料、不同尺寸和不同结构金属布线的焦耳热效应;揭示了在加速试验(一定的高电流、高温)条件下金属化自升温较大,必须考虑焦耳热效应作用的原理;解决了已往用环境温度代替测试结构表面实际温度所带来的误差,从而更准确地得到了可靠性分析的结果．     

浅析集成电路金属化系统的工艺技术

作为材料物殊形态的金属薄膜，已广泛渗透到当代科技的各个领域，并成为微电子、光学利用等技术的基础。如铂、钛钨、铬、银、钛、铝等已成为集成电路金属化系统和分离器件电极布线广泛应用的金属材料。根据电路设计要求，把硅片上制成各种晶体管、二极管等元器件用金属薄膜线条连接起来，构成具有各种功能的集成电路的工艺称为金属化。本文重点阐述集成电路金属化系统金属薄膜制作技术与工艺条件及对所形成金属膜的特性和集成电路性能的影响。1 铂的溅射沉积由于多次光刻后，接触孔处的台阶比较陡直，膜与接触孔的接触效果不一致。1nm的铂…