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薄膜电致发光器件中电子输运的瞬态过程
引用本文:赵辉,王永生,徐征,徐叙.薄膜电致发光器件中电子输运的瞬态过程[J].中国科学(E辑),1999,29(2):174-179.
作者姓名:赵辉  王永生  徐征  徐叙
作者单位:北方交通大学光电子技术研究所,北京100044
基金项目:国家“八六三”高科技计划资助项目,国家教育委员会博士点基金资助项目
摘    要:利用MonteCarlo方法,研究了薄膜电致发光器件中电子输运的瞬态过程,得出了电子平均动能、,平均漂移速度及能谷转移过程随时间的变化规律,电子输运的瞬态时间约为200fs,瞬态长度约为30-40nm。界面发射出的电子平均劝能只影响瞬态过程,对稳态的动能无影响。进而提出了死层现象是由于电子输运的瞬态性质形成的,是这类器件的本征性的特点,并对漂移速度尖峰的形成原因给出了新的解释。

关 键 词:电子输运  瞬态过程  TFELD  电致发光器件
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