薄膜电致发光器件中电子输运的瞬态过程 |
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引用本文: | 赵辉,王永生,徐征,徐叙.薄膜电致发光器件中电子输运的瞬态过程[J].中国科学(E辑),1999,29(2):174-179. |
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作者姓名: | 赵辉 王永生 徐征 徐叙 |
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作者单位: | 北方交通大学光电子技术研究所,北京100044 |
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基金项目: | 国家“八六三”高科技计划资助项目,国家教育委员会博士点基金资助项目 |
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摘 要: | 利用MonteCarlo方法,研究了薄膜电致发光器件中电子输运的瞬态过程,得出了电子平均动能、,平均漂移速度及能谷转移过程随时间的变化规律,电子输运的瞬态时间约为200fs,瞬态长度约为30-40nm。界面发射出的电子平均劝能只影响瞬态过程,对稳态的动能无影响。进而提出了死层现象是由于电子输运的瞬态性质形成的,是这类器件的本征性的特点,并对漂移速度尖峰的形成原因给出了新的解释。
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关 键 词: | 电子输运 瞬态过程 TFELD 电致发光器件 |
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