| 一种基于蓝牙射频电路可测性设计的8位逐次逼近型ADC |
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| 引用本文： | 陈坚,洪志良.一种基于蓝牙射频电路可测性设计的8位逐次逼近型ADC[J].应用科学学报,2004,22(4):475-478. |
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| 作者姓名： | 陈坚 洪志良 |
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| 作者单位： | 复旦大学,集成电路设计实验室,上海,200433 |
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| 摘 要： | 介绍一种基于蓝牙射频电路可测性设计的8位逐次逼近型ADC．该电路的核心由采用rail-to-rail输入的比较器和R-2R网络结构的DAC组成．针对可测性设计的要求，电路结构简单紧凑，功耗低，芯片面积小．同时也提出，基于该ADC的一种适合于蓝牙射频电路的测试方法，通过该方法可以较好地对蓝牙射频电路的功能和性能进行监控和测试．芯片采用TSMC的0．35μm标准CMOS工艺制造，面积仅为0．15mm^2．测试结果显示，在3．3V工作电压下，分辨率可达7位，且在高频工作环境下表现出很好的抗干扰特性．
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| 关 键 词： | 射频电路 蓝牙 逐次逼近型 ADC 可测性设计 rail-to-rail 芯片 抗干扰特性 显示 紧凑 |
| 文章编号： | 0255-8297(2004)04-0475-04 |
An 8-bit Successive Approximation ADC Based on a Design for the Testability of the Bluetooth RF Circuit |
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| CHEN Jian,HONG Zhi-liang.An 8-bit Successive Approximation ADC Based on a Design for the Testability of the Bluetooth RF Circuit[J].Journal of Applied Sciences,2004,22(4):475-478. |
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| Authors: | CHEN Jian HONG Zhi-liang |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | design for testability rail-to-rail R-2R ladder |
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