MoS2的摩擦起电及充电特性研究 |
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引用本文: | 谢云峰,彭金峰,郑学军.MoS2的摩擦起电及充电特性研究[J].湘潭大学自然科学学报,2021(6):43-50. |
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作者姓名: | 谢云峰 彭金峰 郑学军 |
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摘 要: | 二维二硫化钼(2D MoS2)由于其优越的电学、光学和压电性能,使其在未来电子器件领域被广泛关注该文利用AFM接触模式和SKPM,在纳米尺度上,测试CVD 制备多层MoS2的隧道摩擦起电和充电特性通过AFM接触模式,在75 nN的法向载荷力下,用Pt导电探针摩擦MoS2样品的1 μm×1 μm正方形区域,同时使硅基底接地然后通过SKPM,对以摩擦区域为中心的5 μm×5 μm正方形区域的接触电势进行成像最后以上述方式,依次在A、B、C区域进行摩擦起电测试研究结果表明:MoS2不仅具有摩擦起电特性,而且表现出摩擦其他区域,可以对初始区域充电的现象因此,可以利用MoS2的摩擦起电特性和充电现象,指导构建一类新的基于2D MoS2纳米电子器件和摩擦电子学功能器件的应用
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关 键 词: | 原子力显微镜 摩擦起电 MoS2 摩擦充电 开尔文模式 |
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