| 尺寸对铜纳米薄膜2p3/2 能级偏移的影响 |
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| 引用本文： | 周兆锋,杨叶子,王艳,博茂林.尺寸对铜纳米薄膜2p3/2 能级偏移的影响[J].湘潭大学自然科学学报,2014,36(3):16-22. |
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| 作者姓名： | 周兆锋 杨叶子 王艳 博茂林 |
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| 作者单位： | 湘潭大学低维材料教育部重点实验室,湖南湘潭,411105 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金面上项目 |
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| 摘 要： | 结合断键理论(BOLS)和X射线光电子能谱(XPS)分析尺寸对铜纳米薄膜2p3/2能级偏移的影响.通过研究实验测得的XPS谱数据发现铜块体2p3/2的结合能为932.70eV,相对于铜单原子2p3/2的结合能931.00eV偏移了1.70eV.能级产生正偏移主要因为尺寸引起了键收缩,从而引起局域应变、量子势阱以及哈密顿量微扰的变化,最后导致了能级正偏移.事实证明我们可以利用配位数和化学环境来分析XPS谱,并进一步确定有关局域键长、键能、束缚能密度以及原子结合能等定量信息.
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| 关 键 词： | X射线光电子能谱 能级 铜纳米薄膜 |
Size Dependence of the 2p3/2 Binding Energy of Cu Nano-film |
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| ZHOU Zhao-feng
,
YANG Ye-zi
,
WANG Yan
,
BO Mao-lin.Size Dependence of the 2p3/2 Binding Energy of Cu Nano-film[J].Natural Science Journal of Xiangtan University,2014,36(3):16-22. |
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| Authors: | ZHOU Zhao-feng YANG Ye-zi WANG Yan BO Mao-lin |
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| Institution: | ZHOU Zhao-feng;YANG Ye-zi;WANG Yan;BO Mao-lin;Key Laboratory of Low Dimensional Materials and Application Technology of Ministry of Education,Xiangtan University; |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | XPS binding energy Cu nano-film |
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