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氮气分压比对硼碳氮薄膜的组分及光学带隙的影响
引用本文:王玉新,郑亚茹,王晓玉,王晓雪,董李娜,宋哲.氮气分压比对硼碳氮薄膜的组分及光学带隙的影响[J].辽宁师范大学学报(自然科学版),2011,34(1).
作者姓名:王玉新  郑亚茹  王晓玉  王晓雪  董李娜  宋哲
作者单位:辽宁师范大学,物理与电子技术学院,辽宁,大连,116029
基金项目:大连市科学技术基金项目
摘    要:采用射频磁控溅射方法以不同的氮气分压比(1/10~2/3)制备出一组硼碳氮薄膜.傅里叶变换红外光谱(FTIR)和X射线光电子能谱(XPS)测量发现样品的组成原子之间均实现了原子级化合.XPS测量结果表明,所有样品中的B、N原子比近似为1:1,其化学配比为BCx N(0.16<x<1.46).紫外/可见/近红外分光光度计用于测量样品的吸收光谱.由吸收谱线在低能区域(2.0~3.0 eV)的光吸收,利用关系作图法求出光学带隙Eopt范围为0.17~0.83 eV.氮气分压比对薄膜的组分和光学带隙有很大影响,其通过改变薄膜组分而影响光学带隙,并且碳原子数小的样品具有较宽的光学带隙.以氮气分压比为1/3条件下制备的样品中碳原子数最小,它的光学带隙最宽为0.83 eV.

关 键 词:射频磁控溅射  硼碳氮薄膜  氮气分压比  光学带隙

Influence of NZ partial pressure on composition and optical band gapof boron carbon nitride thin films
WANG Yu-xin,ZHENG Ya-ru,WANG Xiao-yu,WANG Xiao-xue,DONG Li-na,SONG Zhe.Influence of NZ partial pressure on composition and optical band gapof boron carbon nitride thin films[J].Journal of Liaoning Normal University(Natural Science Edition),2011,34(1).
Authors:WANG Yu-xin  ZHENG Ya-ru  WANG Xiao-yu  WANG Xiao-xue  DONG Li-na  SONG Zhe
Institution:WANG Yu-xin,ZHENG Ya-ru,WANG Xiao-yu,WANG Xiao-xue,DONG Li-na,SONG Zhe(School of Physics and Electronic Technology,Liaoning Normal University,Dalian 116029,China)
Abstract:
Keywords:RF magnetron sputtering  boron carbon nitride thin films  N2 partial pressure  optical band gap  
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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