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RF磁控溅射法制备PbTe纳米薄膜
引用本文:任伟,曹文田,隋明晓.RF磁控溅射法制备PbTe纳米薄膜[J].山东师范大学学报(自然科学版),2010,25(2):50-52.
作者姓名:任伟  曹文田  隋明晓
作者单位:山东师范大学物理与电子科学学院,250014,济南
摘    要:利用RF磁控溅射和真空退火方法制备了PbTe纳米薄膜.利用SEM、XRD、AFM和FTIR分别对制备的样品的表面形貌和颗粒大小、结构以及带隙宽度进行了测试.结果显示,在10 W溅射功率下制备的PbTe纳米薄膜为纳米颗粒镶嵌薄膜,在20 W功率下为PbTe颗粒膜.10 W制备的纳米颗粒的平均直径为40 nm左右,平均高度为5 nm; 20 W制备的颗粒直径为100 -400 nm,平均高度为65 nm;两个条件下制备的样品均表现出明显的<100>方向的择优取向性,并且20 W的结晶质量比10 W的好.FTIR分析显示10 W和20 W制备的薄膜的带隙宽度分别为0.340 eV和0.343 eV,都比块体带隙宽度大.

关 键 词:RF磁控溅射  退火  纳米颗粒

PbTe NANOFILMS PREPARED BY RF MAGNETRON SPUTTERING
Ren Wei,Cao Wentian,Sui Mingxiao.PbTe NANOFILMS PREPARED BY RF MAGNETRON SPUTTERING[J].Journal of Shandong Normal University(Natural Science),2010,25(2):50-52.
Authors:Ren Wei  Cao Wentian  Sui Mingxiao
Abstract:
Keywords:PbTe
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