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点光栅化及反走样算法的研究与实现
引用本文:王媛媛,韩俊刚,蒋林,张娜.点光栅化及反走样算法的研究与实现[J].河南科技大学学报(自然科学版),2014(4):43-48.
作者姓名:王媛媛  韩俊刚  蒋林  张娜
作者单位:西安邮电大学电子工程学院;西安邮电大学计算机学院;西安邮电大学研究生部
基金项目:国家自然科学基金重点项目(61136002)
摘    要:图形处理器流水线中经典的点生成算法和点反走样算法便于实现,但采样点测试的计算量大并且存在冗余测试,为此提出了多采样扫描转换算法。该算法将多采样集中在边界片元,同时,利用点区别于其他图元的对称特性,减少了采样点的冗余测试,提高了多采样时扫描转换的性能。试验结果表明:文中算法在较小代价下达到了同样的反走样性能。

关 键 词:点图元  光栅化  反走样  图形处理器
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