| 佛克脱线型HeⅠ1083.0nm共振线逃逸几率的计算 |
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| 引用本文： | 张庆国,贺健.佛克脱线型HeⅠ1083.0nm共振线逃逸几率的计算[J].河南科技大学学报(自然科学版),2008,29(4). |
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| 作者姓名： | 张庆国 贺健 |
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| 作者单位： | 河南科技大学,理学院,河南,洛阳,471003 |
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| 基金项目： | 河南科技大学校科研和教改项目，河南省教育厅自然科学基金 |
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| 摘 要： | 基于精确佛克脱线型的表达式,对于平板几何体和柱形几何体,计算了组成He Ⅰ 1 083.0 nm共振线1 083.034 nm,1 083.025 nm和1 082.908 nm三条线的逃逸几率,同时计算了吸收原子在基态的原子数密度,分析了逃逸因子对谱线中心光学深度的影响.理论分析和实验结果相一致,此计算对于探测太阳或其它天体中氦的浓度具有一定参考意义.
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| 关 键 词： | 氦辐射线 逃逸几率 佛克脱线型 光学深度 |
Calculation of Escape Probabilities of He Ⅰ 1 083.0nm Resonance Lines for Voigt Profile |
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| ZHANG Qing-Guo,HE Jian.Calculation of Escape Probabilities of He Ⅰ 1 083.0nm Resonance Lines for Voigt Profile[J].Journal of Henan University of Science & Technology:Natural Science,2008,29(4). |
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| Authors: | ZHANG Qing-Guo HE Jian |
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| Institution: | ZHANG Qing-Guo,HE Jian(Science College,Henan University of Science & Technology,Luoyang 471003,China) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | He emission line Escape probabilities Voigt profile Optical depth |
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