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掠入射平场谱仪高阶像差的计算
引用本文:霍海波,曾凡光.掠入射平场谱仪高阶像差的计算[J].新乡学院学报(自然科学版),2011(2):123-124.
作者姓名:霍海波  曾凡光
作者单位:郑州航空工业管理学院数理系
基金项目:国家自然科学基金资助项目(51072184);郑州航空工业管理学院青年基金项目(Q09JS03)
摘    要:依据变栅距刻线光栅的光路函数,利用建立的光路追踪程序计算了入射距离为155 mm时的高阶像差参量,从而给出了一组优化的光栅参量,减小了缩短距离后所造成的像差。

关 键 词:聚焦平场  像差  平场谱仪

The Higher Order Aberration Calculation of Grazing Incidence Flat-field Spectrometer
Authors:HUO Hai-bo  ZENG Fan-guang
Institution:(Department of Mathematics and Physics,Zhengzhou Institute of Aeronautical Industry Management, Zhengzhou 450015,China)
Abstract:Based on the Aberration-Corrected Concave Gratings light path function.The higher order aberration parameter with the incidence distance 155 mm have been calculated by using ray tracing code.A set of optimum grating parameter is given.The aberration caused by incidence decreasing is reduced.
Keywords:focusing flat field  aberration  flat-field spectrometer
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