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用于可调微波器件的介电Ba_xSr_(1-x)TiO_3薄膜研究
引用本文:程波林,王灿,王守宇,曹玲柱,陈正豪,金奎娟,吕惠宾,周岳亮,杨国桢.用于可调微波器件的介电Ba_xSr_(1-x)TiO_3薄膜研究[J].四川大学学报(自然科学版),2005(Z1).
作者姓名:程波林  王灿  王守宇  曹玲柱  陈正豪  金奎娟  吕惠宾  周岳亮  杨国桢
作者单位:北京凝聚态物理国家实验室 中国科学院物理研究所 中国科学院物理研究所 北京
摘    要:Ba_xSr_(1-x)TiO_3(BST)薄膜具备高的介电可调特性(介电常数在外加电场的作用下会发生改变)和低的介电损耗,这使得BST薄膜成为高速宽带可调微波器件(如相移器、可调带通和带阻滤波器、谐波发生器等)的首选材料,近年来受到世界各国多个研究小组的关注与研究.此研究工作报道采用成分梯度多层膜结构、受主掺杂和复合掺杂方法调控薄膜内部的应力以及电子结构,有效地优化BST薄膜的介电和电学等性能的最新进展.采用脉冲激光沉积(PLD)方法在MgO基片上制备高Sr组分的Ba0.02Sr0.98Ti O3薄膜.通过改善沉积生长的工艺条件,成功克服了MgO基片与薄膜之间大的晶格失配度(7%),在特定的温度和气压获得了外延生长BST薄膜.详细研究了(Ba0.8Sr0.2)(Ti1-xZrx)O3(BSTZ)薄膜的非线性介电特性,发现随着Zr含量的增加,薄膜介电调制率降低,薄膜的损耗和漏电流也显著减小.我们制备了具有不同成分梯度的BSTZ多层膜.介电特性研究表明,随成分梯度(gradients of composition)的增大,介电系数和介电可调性得到增强,铁电回线得到抑制;同时薄膜介电系数的温度稳定性有了显著改善....

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