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射频溅射法和电弧离子镀法制备的纳米TiO2薄膜性能比较
引用本文:吴奎,叶勤.射频溅射法和电弧离子镀法制备的纳米TiO2薄膜性能比较[J].暨南大学学报,2006,27(3):393-397.
作者姓名:吴奎  叶勤
作者单位:暨南大学物理系,广东,广州,510632
基金项目:广东省博士启动基金;广东省广州市科技局科技攻关项目
摘    要:采用射频磁控溅射法和电弧离子镀法制备了纳米TiO2薄膜,并利用XRD、UV-VIS、AFM及通过亲水性和光催化实验对两种方法制备的TiO2薄膜进行了对比表征.结果表明,磁控溅射法的薄膜生长速率只有电弧离子镀法的1/30;前者仅需较低的退火温度就能形成完善的锐钛矿结构;虽然两者有相近的紫外吸收边,但是前者有较大的紫外吸收;磁控溅射法制备的TiO2薄膜表面呈现针状晶结构和具有较大的比表面积;在暗室中保存5 h后,磁控溅射法制备的TiO2膜水的接触角恢复到1°,而后者达到20°;对于光催化降解苯酚,前者有较大的降解率.

关 键 词:射频磁控溅射  电弧离子镀  TiO2薄膜  亲水性  光催化
文章编号:1000-9965(2005)06-0393-05
修稿时间:2005年10月21

Characteristic comparison of TiO2 thin film prepared by R.F. magnetron sputtering and arc ion plating
WU Kui,YE Qin.Characteristic comparison of TiO2 thin film prepared by R.F. magnetron sputtering and arc ion plating[J].Journal of Jinan University(Natural Science & Medicine Edition),2006,27(3):393-397.
Authors:WU Kui  YE Qin
Abstract:
Keywords:R  F  magnetron sputtering  arc ion plating  TiO_2 thin film  photodegradation  hydrophilicity
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