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LTCC电路基板大面积接地钎焊工艺设计
引用本文:解启林,朱启政,林伟成,雷党刚.LTCC电路基板大面积接地钎焊工艺设计[J].应用基础与工程科学学报,2007,15(3):358-362.
作者姓名:解启林  朱启政  林伟成  雷党刚
作者单位:中国电子科技集团第三十八研究所,安徽,合肥,230031
摘    要:提出了一种提高LTCC电路基板大面积接地钎焊的钎着率及可靠性的钎焊工艺设计.在LTCC电路基板接地面设置(Ni+M)复合金属膜层,根据试验测试比较,其耐焊性(〉600s)明显优于常规金属化接地层(常规要求〉50s);在LTCC电路基板的接地面的一端预置“凸点”,通过X射线扫描图对比分析,增加“凸点”的设计提高了大面积接地钎焊的钎着率.研究表明:新的钎焊工艺设计保证了LTCC电路基板大面积接地的钎焊可靠性和一致性.

关 键 词:(Ni  M)复合金属膜层  耐焊性  凸点  钎着率
文章编号:1005-0930(2007)03-0358-05
修稿时间:2006-05-29

Technology Design for Large Area Grounding Soldering of LTCC Circuit Substrate
XIE Qilin,ZHU Qizheng,LIN Weicheng,LEI Danggang.Technology Design for Large Area Grounding Soldering of LTCC Circuit Substrate[J].Journal of Basic Science and Engineering,2007,15(3):358-362.
Authors:XIE Qilin  ZHU Qizheng  LIN Weicheng  LEI Danggang
Institution:No. 38 Institute of China Electrics Technology Group Corporation, Hefei 230031, China
Abstract:
Keywords:
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