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| 用散斑干涉计量方法测定表面二维变形 | |
| 引用本文： | 宋育东.用散斑干涉计量方法测定表面二维变形[J].辽宁工程技术大学学报(自然科学版),1983(1). |
| 作者姓名： | 宋育东 |
| 作者单位： | 阜新矿业学院物理教研室 |
| 摘 要： | 用散斑干涉计量方法测定位移首倡于1968年.十多年来,这种应用技术得到了迅速发展.此项新技术用到试样表面散斑图样的高分辨率照片.测试中,与试样不发生机械接触,也无需对试样表面作预处理.散斑法所用的光学系统比全息法简单得多.散斑法可望成为变形、位移、旋转与振动分析的一种有效方法.本文阐述应用二次曝光散斑照相测定二维变形的一种简易方法,给出实测结果,并述及有关的理论. |
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