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掺钛GZO透明半导体薄膜的光学性质研究
引用本文:钟志有,陆轴,龙路.掺钛GZO透明半导体薄膜的光学性质研究[J].中南民族大学学报(自然科学版),2015(3):64-71.
作者姓名:钟志有  陆轴  龙路
作者单位:1 中南民族大学电子信息工程学院,武汉430074; 2 中南民族大学智能无线通信湖北省重点实验室,武汉430074
基金项目:湖北省自然科学基金资助项目( 2011CDB418) ; 中南民族大学研究生创新基金资助项目( 2015sycxjj008) ; 中央高校基本科研业务费专项资金资助项目( CZW14019)
摘    要:以钛掺杂氧化锌镓(GZO)陶瓷靶作为溅射源材料,采用射频磁控溅射技术在玻璃基片上制备了掺钛GZO(GZO:Ti)透明半导体薄膜,利用光谱拟合方法计算了GZO:Ti薄膜的折射度、消光系数和厚度等光学参数,研究了氩气压强对GZO:Ti薄膜光学性质的影响.结果表明:拟合光谱曲线与实验测量光谱曲线一致,薄膜的光学性质与氩气压强密切相关,GZO:Ti薄膜折射率随波长增大而逐渐减小,表现出正常的色散性质.另外还采用包络法计算了GZO:Ti薄膜的折射率和厚度,两种方法所获得的结果是基本相符的.

关 键 词:掺杂氧化锌  透明半导体薄膜  光学常数

Study on the Optical Properties of Titanium Doped GZO Transparent Semiconductor Thin Films
Abstract:
Keywords:doped zinc oxide  transparent conductive films  optical constants
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