| 含非晶相样品的X射线衍射快速定量分析 |
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| 引用本文： | 宋飞,韩辉,秦宏钢,胡凯,彭美勋,刘欢.含非晶相样品的X射线衍射快速定量分析[J].湖南科技大学学报(自然科学版),2020,35(2):100-106. |
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| 作者姓名： | 宋飞 韩辉 秦宏钢 胡凯 彭美勋 刘欢 |
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| 作者单位： | 1.湖南科技大学 材料科学与工程学院,湖南 湘潭 411201;2.天津水泥工业设计研究院有限公司,天津 300000;
3.中铁三局集团有限公司,山西 太原 030000 |
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| 基金项目： | 湖南科技大学博士科研启动基金资助项目(E51798);“十三五”国家重点专项资助(2017YFB0310102-05);湖南省大学生研究性学习和创新性实验计划资助项目(201810534004) |
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| 摘 要： | 基于K值拟合或里特沃尔德(Rietveld)精修,通过X射线衍射(XRD)对已知组成的样品进行了快速定量分析,探讨了非晶相或结晶度不高的物质对衍射图谱的影响,对比了K值拟合和Rietveld精修定量分析的优劣,阐明常见Rietveld精修软件(TOPAS,JADE,GSAS)定量分析的特点.结果表明:结晶度较低的物质能否被XRD检出,不仅取决于其含量,也和共存晶相的衍射能力有关;当样品中非晶相含量较高,且内标物掺量合适,则可通过XRD快速定量分析出非晶相含量; 3种Rietveld精修软件均可对物相组成复杂的样品进行较好的快速定量分析,而K值拟合定量误差较大; TOPAS,JADE界面友好,容易熟练掌握,GSAS操作相对复杂,需要较强的理论基础.
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| 关 键 词： | X射线衍射 里特沃尔德 K值 定量分析 非晶相 |
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