| 高量程加速度计测试电路板的可靠性分析 |
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| 引用本文： | 李长龙.高量程加速度计测试电路板的可靠性分析[J].科学技术与工程,2012,12(36):9989-9993. |
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| 作者姓名： | 李长龙 |
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| 作者单位： | 仪器科学与动态测试教育部重点实验室,中北大学电子测试技术国家重点实验室,太原030051 |
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| 摘 要： | 测试电路是高量程加速度计的重要组成部分,其抗冲击能力直接影响高量程加速度计的可靠性。在理论分析高量程加速度计测试电路在冲击环境下的失效模式与机理的基础上,运用ANSYS/LS-DYNA对测试电路的抗过载能力进行了模拟仿真。完成了测试电路在0—40 000 g范围内的冲击测试。试验结果发现在19 750 g的冲击下电路失效。并且对电路板的可靠性采用应力—强度干涉模型进行评估。
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| 关 键 词： | ANSYS/LS-DYNA 高量程加速度计 失效 应力—强度干涉模型 |
| 收稿时间： | 2012/8/14 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2012/8/14 0:00:00 |
The reliability analysis of high range accelerometer Mesurement Circuit board |
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| lichanglong.The reliability analysis of high range accelerometer Mesurement Circuit board[J].Science Technology and Engineering,2012,12(36):9989-9993. |
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| Authors: | lichanglong |
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| Institution: | (Key Laboratory of Instrumentation Science & Dynamic Measurement Ministry of Education, Science and Technology on Electronic Test & Measurement Laboratory,North University of China,Taiyuan 030051,P.R.China) |
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| Keywords: | |
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