首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

纳米相变存储技术研究进展
引用本文:宋志棠,刘波,封松林.纳米相变存储技术研究进展[J].科技通讯(上海),2008,14(1):14-18.
作者姓名:宋志棠  刘波  封松林
作者单位:中国科学院上海微系统与信息技术研究所纳米技术实验室,上海200050
摘    要:相变存储技术是纳电子器件发展的主流技术之一,利用其电脉冲操作下的纳秒级的可逆相变过程制备的相变存储器(PCRAM),在嵌入式与大容量存储方面有巨大的商用价值与应用前景,已成为国际大公司开发的热点,PCRAM芯片容量与技术以超常规的速度发展,同时,针对纳米尺度的可逆相变机理、纳米尺度可逆相变的有效控制、低功耗的器件结构、已成为国际上科研界的研究热点,本文对上述情况进行综述,进一步给出我国的PCRAM的研究现状、工业基础、合作状况与展望。

关 键 词:相变材料  相变存储器  进展
本文献已被 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号