基于导电AFM类金刚石膜表面改性研究 |
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引用本文: | 朱守星,丁建宁,范真,李长生,蔡兰,杨继昌.基于导电AFM类金刚石膜表面改性研究[J].科技通讯(上海),2004,10(1):111-114. |
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作者姓名: | 朱守星 丁建宁 范真 李长生 蔡兰 杨继昌 |
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摘 要: | 用导电原子力显微镜(AFM)针对宏观上绝缘,微观上由导电相sp^2和绝缘相sp^3混合的类金刚石(DLC)膜,进行表面改性的研究,尤其观察DLC膜表面施加电压前后形貌变化。实验表明,当直流电压加在针尖上,DLC膜形貌未发生变化,而电压施加在样品表面则出现明显纳米加工凹坑。解释了凹坑的“蝴蝶坑”形成原因;对DLC膜力电耦合实验表明,在一定临界压力之下,随针尖对样品作用力的加大,凹坑的深度随之增加。
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关 键 词: | AFM DLC 表面改性 力电耦合 类金刚石膜 |
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