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双脉冲法测鍺硅半导体材料中非平衡载流子寿命

引用本文：	贺永久 ,杨文波 ,马盛友 ,邹广盛.双脉冲法测鍺硅半导体材料中非平衡载流子寿命[J].天津大学学报(自然科学与工程技术版),1964(2).

作者姓名：	贺永久杨文波马盛友邹广盛

摘要：	本文简述了双脉冲法测锗硅中非下衡少数载流子寿命的设备,测试结果的分析,注入公式的推导及误差产生的原因。
本文献已被 CNKI 等数据库收录！