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固体继电器电参数自动测试系统的研究
引用本文:鲁昌华,刘春.固体继电器电参数自动测试系统的研究[J].中国科学技术大学学报,2000,30(5):613-618.
作者姓名:鲁昌华  刘春
作者单位:1. 合肥工业大学计算机与信息学院
2. 合肥工业大学电气工程学院,合肥,230061
基金项目:九五国防(电子)预研项目(DY30.3.10.1)的子课题
摘    要:介绍了基于GP-IB总线技术组建的固体继电器电参数自动测试系统,详细阐述了系统的结构、参数的测试和同步方法。实际使用和检测表明,系统具有结构合理、测量精度和可靠性高的特点,可推广应用于类似的自动测试系统。

关 键 词:固体继电器  自动测试系统  电参数
修稿时间::

A Study on the Automated Test System of Electrical Parameters of Solid State Relay
LU Chang-hua,LIU Chun.A Study on the Automated Test System of Electrical Parameters of Solid State Relay[J].Journal of University of Science and Technology of China,2000,30(5):613-618.
Authors:LU Chang-hua  LIU Chun
Abstract:The paper introduces a set of automated test system (ATS) of electrical parameters of solid state relay, which is based on GP IB bus technology. The system structure, testing methods of parameter and synchronization methods are presented in detail. Results of the experiments and tests show that ATS contains the features of a reasonable structure, high precision and reliability. It can have applications in similar ATS too.
Keywords:solid state relay  automated test system  GPIB  PLC  electrical parameter  synchronization  
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