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Weibull分布场合下简单步进应力加速寿命试验的最优设计
引用本文:施方,葛广平.Weibull分布场合下简单步进应力加速寿命试验的最优设计[J].上海大学学报(自然科学版),1998,4(3):247-252.
作者姓名:施方  葛广平
作者单位:School of Sciences,Shanghai University
摘    要:产品的加速寿命试验被用来较快地是关于产品寿命分布的信息,加速寿命试验的最优设计,一方面可对产品的各种可靠性指标获得更准确的估计,另一方面也可节省试验的时间和费用。本文研究了Weibull分布下简单步加试验的最优设计,考虑了1型截尾的情形,给出了一个例子,并以设定应力下平均寿命的极大似然估计的渐近方差最小作为优化标准得到试验的最优设计。

关 键 词:步进应力  最优设计  寿命试验  韦伯分布  可靠性
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