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| 基于机器视觉技术的电子元件表面不平度检测 | |
| 引用本文： | 薛云,黄雯,周卫星,唐会智.基于机器视觉技术的电子元件表面不平度检测[J].广东科技,2009(16):142-143. |
| 作者姓名： | 薛云 黄雯 周卫星 唐会智 |
| 作者单位： | 1. 华南师范大学物理与电信工程学院 2. 湖南文理学院 |
| 基金项目： | 广东省科技计划工业攻关 |
| 摘 要： | 电子行业的迅速发展对电子元件的质量不断提出更高要求,本文针对电子元件常见的表面凹凸不平的质量问题,提出一种基于机器视觉技术的解决方法.首先采集电子元件的图像信息,经图像分割判断其是否正面朝上,否则利用机械传动装置自动翻面.接着进入不平整度检测环节,在元件一侧安装光源,在其另一侧用摄像头拍摄被测元件侧面不同程度的漏光图像,然后利用图像处理技术来判断正品与次品,实现电子元件的自动检测和处理. |
| 关 键 词： | 电子元件 不平度检测 机器视觉 自动检测 |
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