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分离基体ICP-AES法测定高纯钽及其氧化物中杂质元素
引用本文:李淑兰,任凤莲,陈莉,胡黔南,宋鸽.分离基体ICP-AES法测定高纯钽及其氧化物中杂质元素[J].中南大学学报(自然科学版),2000,31(3):242-245.
作者姓名:李淑兰  任凤莲  陈莉  胡黔南  宋鸽
作者单位:中南工业大学化学化工学院!湖南长沙410083
基金项目:国家星火科技计划资助项目! ( 990 2 31 D880 0 819)
摘    要:为了解决高纯钽及其氧化物中杂质元素的测定问题 ,采用ICP AES测定方法 ,对测定中基体效应及光谱干扰进行了研究 ,讨论了分离速率、洗脱液量及其浓度等因素对基体分离效果和杂质元素回收率的影响 ,建立了简便、快速、准确测定高纯钽及其氧化物中杂质元素的新方法 .研究结果表明 :用该法测定高纯Ta2 O5 中 1 2种杂质元素回收率在 90 %~ 1 1 0 %之间 ,相对标准偏差小于 8 1 5 % .其准确度及精密度均较好 ,可以适用于日常配合分析以及出口产品的控制分析

关 键 词:  ICP-AES法  基体效应  光谱干扰  离子交换树脂  分离

Determination of impurity in high purity tantalum and its oxide by ICP-AES after trace-matrix separation
LI Shu lan,REN Feng lian,CHEN Li,HU Qian nan,SONG Ge.Determination of impurity in high purity tantalum and its oxide by ICP-AES after trace-matrix separation[J].Journal of Central South University:Science and Technology,2000,31(3):242-245.
Authors:LI Shu lan  REN Feng lian  CHEN Li  HU Qian nan  SONG Ge
Abstract:
Keywords:tantalum  ICP-AES method  matrix effect  spectral interference  ion-exchange resin  separation
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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