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温度对RTCVD法制备多晶硅薄膜生长的影响
引用本文:胡芸菲,沈辉,柳锡运,郭志球,刘正义.温度对RTCVD法制备多晶硅薄膜生长的影响[J].华南理工大学学报(自然科学版),2007,35(4):72-76.
作者姓名:胡芸菲  沈辉  柳锡运  郭志球  刘正义
作者单位:1. 中山大学,太阳能系统研究所,广东,广州,510006
2. 华南理工大学,材料科学与工程学院,广东,广州,510640
3. 华南理工大学,机械工程学院,广东,广州,510640
摘    要:多晶硅薄膜太阳电池是21世纪最具发展潜力的薄膜太阳电池.如何快速、大面积、高质量地沉积多晶硅薄膜一直是多晶硅薄膜太阳电池研究中的一个核心问题.文中以SiHCl3为硅源、B2H6为掺杂气,采用先进的快热化学气相沉积法(RTCVD)制备了大晶粒的多晶硅薄膜.所制备的薄膜厚度为30~40μm,沉积速率达3~7μm/min.文中还分析了沉积温度对多晶硅薄膜生长速率及晶体微观结构的影响.结果表明:当沉积温度在900~1170℃时,平均生长速率随温度近似单调递增,此时薄膜生长由表面反应阶段控制;随着温度的升高,薄膜平均晶粒尺寸也由900℃时的不足3μm增长到1170℃时的超过30μm;温度较低时,薄膜易向220]方向生长;温度达到1170℃时,多晶硅薄膜有向111]方向生长的趋势.

关 键 词:多晶硅  薄膜  沉积温度  晶体生长  晶体取向  太阳电池
文章编号:1000-565X(2007)04-0072-05
修稿时间:2006-04-06

Effect of Temperature on Growth of Polycrystalline Silicon Thin Films Prepared via RTCVD
Hu Yun-fei,Shen Hui,Liu Xi-yun,Guo Zhi-qiu,Liu Zheng-yi.Effect of Temperature on Growth of Polycrystalline Silicon Thin Films Prepared via RTCVD[J].Journal of South China University of Technology(Natural Science Edition),2007,35(4):72-76.
Authors:Hu Yun-fei  Shen Hui  Liu Xi-yun  Guo Zhi-qiu  Liu Zheng-yi
Institution:1. Institute for Solar Energy Systems, Sun Yat-Sen Univ. , Guangzhou 510006, Guangdong, China; 2. School of Materials Science and Engineering, South China Univ. of Tech. , Guangzhou 510640, Guangdong, China; 3. School of Mechanical Engineering, South China Univ. of Tech. , Guangzhou 510640, Guangdong, China
Abstract:
Keywords:polycrystalline silicon  thin film  deposition temperature  crystal growth  crystal orientation  solar cell
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