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| 系统芯片测试调度模型及其调度算法 | |
| 引用本文： | 陈新武,牟光臣,柳青梅.系统芯片测试调度模型及其调度算法[J].信阳师范学院学报(自然科学版),2008,21(2):294-297. |
| 作者姓名： | 陈新武 牟光臣 柳青梅 |
| 作者单位： | 1. 信阳师范学院物理电子工程学院,河南信阳,464000;华中科技大学图像识别与人工智能研究所IC设计中心,湖北,武汉,430074 2. 河南机电高等专科学校电子信息工程系,河南,新乡,453002 3. 华中科技大学图像识别与人工智能研究所IC设计中心,湖北,武汉,430074 |
| 摘 要： | 系统芯片的设计是基于IP核的设计,整个芯片的测试包括各个IP核和粘合逻辑的测试.根据测试基准模型ITC02建立了系统芯片测试调度模型,该模型假定系统芯片的每个模块有若干个可供选择的测试资源,已知使用每个测试资源所完成该测试的时间和功耗.在最大功耗约束下,提出了一种通用的测试调度算法,并针对构造的基准电路,给出了该调度算法的实现结果. |
| 关 键 词： | 系统芯片 调度算法 测试资源 IP核 ITC02测试基准电路 系统芯片测试 调度模型 调度算法 SoCs Algorithm Model Schedule 结果 基准电路 构造 约束 最大功耗 时间 使用 测试资源 选择 模块 基准模型 逻辑 粘合 |
A Test Schedule Model and Corresponding Algorithm for SoCs |
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| CHEN Xin-wu,MOU Guang-chen,LIU Qing-mei.A Test Schedule Model and Corresponding Algorithm for SoCs[J].Journal of Xinyang Teachers College(Natural Science Edition),2008,21(2):294-297. | |
| Authors: | CHEN Xin-wu MOU Guang-chen LIU Qing-mei |
| Abstract: | |
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