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射频磁控溅射透明ZnO薄膜的退火性质分析
引用本文:汪冬梅,吕珺,徐光青,吴玉程,郑治祥.射频磁控溅射透明ZnO薄膜的退火性质分析[J].合肥工业大学学报(自然科学版),2006,29(10):1185-1188.
作者姓名:汪冬梅  吕珺  徐光青  吴玉程  郑治祥
作者单位:合肥工业大学,材料科学与工程学院,安徽,合肥,230009
基金项目:合肥工业大学校科研和教改项目
摘    要:采用射频(RF)磁控溅射法在玻璃衬底上制备了c轴择优取向的ZnO薄膜。对所制备的ZnO薄膜在空气气氛中进行不同温度(350~600℃)的退火处理。利用XRD研究退火对ZnO薄膜晶体性能和应力状态的影响;用扫描电子显微镜(SEM)观察薄膜的表面形貌;用分光光谱仪测试薄膜的透光率。研究表明,随退火温度的升高,ZnO薄膜(002)衍射峰强度不断增强,半高宽逐渐减小;ZnO薄膜中沿c轴方向存在着的张应力在500℃退火时得到松弛;退火处理后薄膜的平均透光率变化不大,但透射光谱出现了“红移”现象。

关 键 词:ZnO薄膜  RF磁控溅射  退火处理  结晶  应力  透光性
文章编号:1003-5060(2006)10-1185-04
修稿时间:2005年10月18

Influence of annealing on the properties of the transparent zinc oxide thin film prepared by radio frequency(RF) magnetron sputtering
WANG Dong-mei,L Jun,XU Guang-qing,WU Yu-cheng,ZHENG Zhi-xiang.Influence of annealing on the properties of the transparent zinc oxide thin film prepared by radio frequency(RF) magnetron sputtering[J].Journal of Hefei University of Technology(Natural Science),2006,29(10):1185-1188.
Authors:WANG Dong-mei  L Jun  XU Guang-qing  WU Yu-cheng  ZHENG Zhi-xiang
Institution:WANG Dong-mei,L(U) Jun,XU Guang-qing,WU Yu-cheng,ZHENG Zhi-xiang
Abstract:
Keywords:ZnO thin film  RF magnetron sputtering  annealing  crystallization  stress  transmittance
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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