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ZAO透明薄膜厚度对其导电膜性能的影响
引用本文:靳铁良,马勇.ZAO透明薄膜厚度对其导电膜性能的影响[J].郑州大学学报(理学版),2007,39(3):120-123.
作者姓名:靳铁良  马勇
作者单位:1. 平顶山学院电气信息工程学院,河南,平顶山,467002
2. 重庆师范大学物理学与信息技术学院,重庆,400047
摘    要:研究了薄膜的结构性质、光学和电学性质随薄膜厚度的变化关系.制备的ZnO:Al薄膜具有(002)面的单一择优取向的多晶六角纤锌矿结构,性能优良的薄膜电阻率为4.9×1 0-4Ω.cm,平均透射率达到了88%.

关 键 词:直流反应磁控溅射  ZAO薄膜  厚度  光电性能
文章编号:1671-6841(2007)03-0120-04
修稿时间:2006年12月8日

Thickness of ZnO:Al Transparent Thin Films Influencing Its Conductance
JIN Tie-liang,MA Yong.Thickness of ZnO:Al Transparent Thin Films Influencing Its Conductance[J].Journal of Zhengzhou University:Natural Science Edition,2007,39(3):120-123.
Authors:JIN Tie-liang  MA Yong
Abstract:
Keywords:DC reactive magnetron sputtering  ZAO film  film thickness  optical and electrical property
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