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硫化温度对两步法制备FeS2薄膜成分和结构的影响
引用本文:吴新坤,翁臻臻,郑明学,钟南保,程树英.硫化温度对两步法制备FeS2薄膜成分和结构的影响[J].扬州大学学报(自然科学版),2006,9(2):39-42.
作者姓名:吴新坤  翁臻臻  郑明学  钟南保  程树英
作者单位:福州大学,物理与信息工程学院,福州,350002
基金项目:福建省教育厅科研基金资助项目(JA03009,JB04046),福州大学科技发展基金项目(2005-XY-14)
摘    要:首先采用真空热蒸发法在玻璃基片上沉积厚度约为500 nm的铁膜,然后对铁膜在温度为553~673K的条件下恒温硫化6 h,制备F eS2薄膜.对制备的薄膜进行X射线衍射和显微结构分析,发现:合适的硫化温度为603~653 K,所得薄膜为单一物相的F eS2薄膜,n(S)/n(F e)值为1.94~1.96,接近理想化学配比,薄膜晶粒大小均匀,表面致密.

关 键 词:二硫化铁薄膜  硫化  温度  性能
文章编号:1007-824X(2006)02-0039-04
收稿时间:2005-11-25
修稿时间:2005-11-25

The effect of sulfidation temperature on the structure and composition of pyrite thin films prepared by two-step method
WU Xin-kun,WENG Zhen-zhen,ZHENG Ming-xue,ZHONG Nan-bao,CHENG Shu-ying.The effect of sulfidation temperature on the structure and composition of pyrite thin films prepared by two-step method[J].Journal of Yangzhou University(Natural Science Edition),2006,9(2):39-42.
Authors:WU Xin-kun  WENG Zhen-zhen  ZHENG Ming-xue  ZHONG Nan-bao  CHENG Shu-ying
Abstract:
Keywords:pyrite thin film  sulfidation  temperature  property
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