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采用F—P干涉光谱技术测定光谱轮廓
引用本文:李春芳,冯新堂.采用F—P干涉光谱技术测定光谱轮廓[J].山西大学学报(自然科学版),1989,12(1):66-71.
作者姓名:李春芳  冯新堂
作者单位:山西大学物理系 (李春芳),晋东南师专物理系 (冯新堂),中国科学院西安光机所(赵葆常)
摘    要:在Fabry—Perot干涉仪的反射率R比较低的情况下,我们采用截断奇异值分解—TSVD求解线代数方程组的方法,在电子计算机上非常准确地从F—P干涉图的强度分布获得了光谱线的强度分布.并且当干涉图有10~(-2)数量级的噪声时,该方法亦给出了理想的结果。

关 键 词:干涉光谱术  光谱线轮廓  Fabry—Perot干涉仪

DETERMINATION OF SPECTRAL LINE PROFILE USING FABRY-PEROT INTERFERENTIAL SPECTROSCOPY
Li Chunfang.DETERMINATION OF SPECTRAL LINE PROFILE USING FABRY-PEROT INTERFERENTIAL SPECTROSCOPY[J].Journal of Shanxi University (Natural Science Edition),1989,12(1):66-71.
Authors:Li Chunfang
Abstract:
Keywords:
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