| 数字电路芯片检测系统的研制与应用 |
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| 引用本文： | 王艳芳,张颖,赵二刚,张维,张红宾.数字电路芯片检测系统的研制与应用[J].实验室科学,2015(1):43-46. |
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| 作者姓名： | 王艳芳 张颖 赵二刚 张维 张红宾 |
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| 作者单位： | 南开大学电子信息实验教学中心 |
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| 基金项目： | 南开大学校级教改项目(项目编号:ZB130141) |
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| 摘 要： | 研制了双列直插式数字电路芯片检测系统,以Atmega128L单片机为核心,根据待测芯片的逻辑功能,编写覆盖整个逻辑功能的测试程序,驱动单片机的输入、输出管脚,对芯片进行逻辑功能检测,根据检测结果,判断芯片是否损坏,利用蜂鸣器、LED灯及液晶屏来输出检测结果。实现了双列直插式数字电路芯片的检测功能。利用该系统能够对双列直插式数字电路芯片的好坏进行检测,以确保损坏的芯片被及时分拣出来,保障实验教学的正常进行。该系统具有较好的应用前景和实用价值。
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| 关 键 词： | 数字电路芯片 检测系统 单片机 |
Development and application of digital circuit chip test system |
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| WANG Yan-fang;ZHANG Ying;ZHAO Er-gang;ZHANG Wei;ZHANG Hong-bin.Development and application of digital circuit chip test system[J].Laboratory Science,2015(1):43-46. |
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| Authors: | WANG Yan-fang;ZHANG Ying;ZHAO Er-gang;ZHANG Wei;ZHANG Hong-bin |
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| Institution: | WANG Yan-fang;ZHANG Ying;ZHAO Er-gang;ZHANG Wei;ZHANG Hong-bin;Electronic Information Laboratorial Teaching Center,Nankai University; |
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