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外延ZnO压电薄膜的声表面波特性分析
引用本文:张柏顺,刘江华,江娟,梁坤,章天金.外延ZnO压电薄膜的声表面波特性分析[J].湖北大学学报(自然科学版),2003,25(2):130-132.
作者姓名:张柏顺  刘江华  江娟  梁坤  章天金
作者单位:湖北大学物理学与电子技术学院,湖北大学物理学与电子技术学院,湖北大学物理学与电子技术学院,湖北大学物理学与电子技术学院,湖北大学物理学与电子技术学院 湖北武汉430062,湖北武汉430062,湖北武汉430062,湖北武汉430062,湖北武汉430062
基金项目:武汉市科技晨光计划资助项目(20015005032)
摘    要:采用RF平面磁控溅射技术在单晶Al2O3衬底上淀积了ZnO薄膜.研究了ZnO薄膜的结构特性及电学性能,XRD结果表明:在Al2O3衬底上沉积的ZnO薄膜是高度c轴取向的.电阻率测试结果表明:在纯氧中高温退火,薄膜的电阻率提高到107Ω·cm量级.对于ZnO Al2O3结构的SAW器件,随着ZnO薄膜厚度的减小,其机电耦合系数降低,但声表面波速率增加.

关 键 词:ZnO压电薄膜  氧化锌薄膜  声表面波  薄膜结构  电学性能  磁控溅射
文章编号:1000-2375(2003)02-0130-03
修稿时间:2003年3月17日

Analysis of SAW properties for epitaxial ZnO thin films
Abstract:
Keywords:magnetic-control sputtering system  ZnO films  SAW  structural properties
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