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CCD成像器件的不均匀性测试
引用本文:吴裕斌.CCD成像器件的不均匀性测试[J].华中理工大学学报,1998,26(8):58-60.
作者姓名:吴裕斌
摘    要:从理论上分析了CCD暗电流和响应率不均匀性产生的原因,指出在一定条件下可通过定标的方法减少CCD不均匀性对测量结果的影响。

关 键 词:电荷耦合器件  不均匀性  测试  光电传感器
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