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高效验证平台在TD-SCDMA终端芯片功能验证中的应用
引用本文:陈辉,申敏,刘树军.高效验证平台在TD-SCDMA终端芯片功能验证中的应用[J].重庆邮电大学学报(自然科学版),2006,18(3):299-302,316.
作者姓名:陈辉  申敏  刘树军
作者单位:重庆重邮信科股份有限公司3G研究院,重庆,400065
摘    要:介绍了基于事务级验证的验证方法学(RVM)和覆盖率驱动技术,以及如何将RVM方法学和覆盖率驱动技术结合而搭建高效的验证平台,并详细分析了使用此验证平台对TD-SCDMA终端芯片进行完备和高效的RTL级功能验证.此验证平台比传统验证平台在效率上大大提高,有效地缩短了SoC芯片模块级和系统级的验证时间,缩短了3 SoC芯片的开发周期.

关 键 词:片上系统  待验证模块  验证方法学(RVM)  覆盖率驱动  RVM验证平台  引用模型
文章编号:1004-5694(2006)03-0299-04
修稿时间:2006年1月11日

Application of more effective test-bench in TD-SCDMA chip verification
CHEN Hui,SHEN Min,LIU Shu-jun.Application of more effective test-bench in TD-SCDMA chip verification[J].Journal of Chongqing University of Posts and Telecommunications,2006,18(3):299-302,316.
Authors:CHEN Hui  SHEN Min  LIU Shu-jun
Abstract:
Keywords:
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