| 采用AlN绝缘栅的AlGaN/GaN凹栅槽结构MISHEMT器件 |
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| 引用本文： | 黄俊,张宗贤,黄峰,魏珂,刘新宇,郝跃,张进诚.采用AlN绝缘栅的AlGaN/GaN凹栅槽结构MISHEMT器件[J].科技咨询导报,2012(4):6-8. |
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| 作者姓名： | 黄俊 张宗贤 黄峰 魏珂 刘新宇 郝跃 张进诚 |
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| 作者单位： | [1]海峡西岸（云霄）光电产品检测研发中心,漳州363300 [2]中国科学院微电子研究所,北京100029 [3]西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件重点实验室,西安710071 |
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| 摘 要： | 本文通过射频磁控反应溅射实现高质量的AlN绝缘栅层,采用感应耦合等离子体（ICP）刻蚀出凹栅槽结构,将MIS结构和凹栅槽结构的优点相结合,研制成功AlGaN/GaN凹栅槽结构MIS HEMT器件,在提高器件栅控能力的同时,降低栅极漏电,提高击穿电压。器件栅长0.8μm,栅宽60μm,测得栅压为＋5V时最大饱和输出电流为832mA/mm,最大跨导达到210mS/mm,栅压为-15V时栅极反向漏电为6nA/mm。
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| 关 键 词： | AlGaN/GaN 凹栅槽 AlN MISHEMT |
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