| L-DSP片上调试电路的设计与实现 |
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| 引用本文： | 白创,李帆,汪东.L-DSP片上调试电路的设计与实现[J].湖南大学学报(自然科学版),2020,47(8):69-73. |
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| 作者姓名： | 白创 李帆 汪东 |
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| 作者单位： | 长沙理工大学物理与电子科学学院,湖南 长沙 410114;柔性电子材料基因工程湖南省重点实验室,湖南 长沙 410114,长沙理工大学物理与电子科学学院,湖南 长沙 410114,湖南毂梁微电子有限公司,湖南 长沙 410005 |
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| 基金项目： | 湖南省教育厅科学研究项目 |
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| 摘 要： | 针对L-DSP的调试需求,设计了一种基于JTAG接口的片上调试电路.该调试电路实现了存储资源访问、CPU流水线控制、硬件断点/观察点、参数统计等调试功能.相对于传统调试方式,本文电路通过增加DT-DMA模块,实现数据在外设与内存之间直接传输,极大地提升了调试效率.调试电路在0.18μm CMOS工艺下实现,面积为167 234.76μm2,功耗为8.89mW.同时,调试电路与L-DSP全芯片在FPGA下进行验证,结果表明,该调试电路调试功能完整且DT-DMA传输调试数据的速度是CPU传输的3倍.
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| 关 键 词： | 调试 片上调试 JTAG接口 DT-DMA DMA操作 |
Design and Implementation of L-DSP On-chip Debug Circuit |
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| BAI Chuang,LI Fan,WANG Dong.Design and Implementation of L-DSP On-chip Debug Circuit[J].Journal of Hunan University(Naturnal Science),2020,47(8):69-73. |
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| Authors: | BAI Chuang LI Fan WANG Dong |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | |
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