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热处理对Y2 O3:Eu荧光薄膜结晶性能的影响
引用本文:张晓松,李岚,邹开顺,陶怡.热处理对Y2 O3:Eu荧光薄膜结晶性能的影响[J].天津理工学院学报,2004,20(1):20-23.
作者姓名:张晓松  李岚  邹开顺  陶怡
作者单位:[1]天津理工学院材料物理研究所,天津300191 [2]河北工业大学信息学院,天津300130
摘    要:运用热处理方法对电子束蒸发制备的Y2 O3:Eu荧光薄膜进行不同条件下的退火处理.用X射线衍射等手段表征Y2 O3:Eu荧光薄膜的成分、结构、表面形貌.实验表明随着温度的升高,薄膜的结晶状况得到改善,提高了薄膜的结晶性能.

关 键 词:热处理  荧光薄膜  结晶性能  Y2O3:Eu  退火  FED  显示材料  场发射显示器
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