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退火温度对La1-xCaxMnO3薄膜电输运特性的影响
引用本文:张雪峰,蒋洪川,李会容,方民宪.退火温度对La1-xCaxMnO3薄膜电输运特性的影响[J].四川师范大学学报(自然科学版),2008,31(5).
作者姓名:张雪峰  蒋洪川  李会容  方民宪
作者单位:1. 电子科技大学,电子薄膜与集成器件国家重点实验室,四川,成都,610054
2. 攀枝花学院,电气信息工程学院,四川,攀枝花,617000
3. 攀枝花学院,材料工程学院,四川,攀枝花,617000
基金项目:四川省科技厅资助项目 
摘    要:采用磁控溅射法在STO(001)基片上沉积钙钛矿结构LCMO薄膜,研究了退火温度对LCMO薄膜微结构及电输运特性的影响.研究结果表明,随退火温度的升高,薄膜中氧含量及Mn^4+/Mn^3+比逐渐升高,LCMO薄膜中的Mn^4+/Mn^3+比与薄膜中的氧含量有关,当氧含量增大时,Mn^4+/Mn^3+比相应增大.LCMO薄膜的电阻率随退火温度升高而逐渐减小,而LCMO薄膜的金属-绝缘相变温度随退火温度升高而逐渐升高,经850℃退火处理的LCMO薄膜的金属.绝缘相变温度可达257K.

关 键 词:LCMO薄膜  退火  氧含量  Mn^4+/Mn^3+  金属-绝缘相变

The Influence of Annealing Temperature on the Transport Properties of LCMO Thin Film
ZHANG Xue-feng,JIANG Hong-chuan,LI Hui-rong,FANG Min-xian.The Influence of Annealing Temperature on the Transport Properties of LCMO Thin Film[J].Journal of Sichuan Normal University(Natural Science),2008,31(5).
Authors:ZHANG Xue-feng  JIANG Hong-chuan  LI Hui-rong  FANG Min-xian
Abstract:
Keywords:
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