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近场扫描光学显微镜中的一种新型距离控制方法研究
引用本文:李创社,李实,宋建平,唐天同.近场扫描光学显微镜中的一种新型距离控制方法研究[J].西安交通大学学报,1999,33(4):31-33.
作者姓名:李创社  李实  宋建平  唐天同
作者单位:西安交通大学,710049,西安
摘    要:近场扫描光学显微镜(NSOM)中,切向力的检测有两种方法:光学检测法和非光学检测法.目前普遍采用的非光学检测法,基本上是采用压电陶瓷产生振荡,检测振幅在切向力作用下的衰减,从而控制探针和样品的距离.文中提出了一种新型的近场距离控制方法,即利用双压电片产生振荡和进行检测.实验结果表明,此法可明显提高检测灵敏度.

关 键 词:近场扫描光学显微镜(NSOM)  切向力检测  近场距离控制

A New Method on Distance Control in Near-Field Scanning O ptical Microscopy
Li Chuangshe,Li Shi,Song Jianping,Tang Tiantong.A New Method on Distance Control in Near-Field Scanning O ptical Microscopy[J].Journal of Xi'an Jiaotong University,1999,33(4):31-33.
Authors:Li Chuangshe  Li Shi  Song Jianping  Tang Tiantong
Abstract:The presence of shear force in a near field scanning optical microscopy can be detected by optical and nonoptical means. The latter is generally used by the piezoelectric control approach. A bimorph is used to produce the vibration for detecting amplitude decay of shear force and to control the near field distance. The method improves the sensitivity of detection.
Keywords:NSOM  shear force detection  near  field distance control
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