首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

磷离子注入硅的 CWCO_2激光退火的研究
引用本文:周世禄,朱秉升,周彩弟,罗晋生.磷离子注入硅的 CWCO_2激光退火的研究[J].西安交通大学学报,1987(1).
作者姓名:周世禄  朱秉升  周彩弟  罗晋生
作者单位:西安交通大学电子工程系 (周世禄,朱秉升,周彩弟),西安交通大学电子工程系(罗晋生)
摘    要:本文应用剥层椭偏光法对硅中大剂量P~ 注入形成的非晶层在CWOO_2激光退火时的固相外延模型进行静态实验证明.获得CWCO_2激光退火的固相外延生长平均速率达到4.2×10~3(?)/sec.本文并应用隐式差分方法计算了退火样品的体内温度的径向分布T(r,t)及离子注入非晶层外延再结晶厚度的径向分布ξ(r,t)的离散值,得到选择退火条件的一些依据.

关 键 词:离子注入  退火

STUDY OF THE CWCO_2 LASER ANNEALING PROCESS OF ION IMPLANTATED LAYER OF Si
Zhou Shilu Zhu Bingsheng Zhou Caidi Luo Jinsheng.STUDY OF THE CWCO_2 LASER ANNEALING PROCESS OF ION IMPLANTATED LAYER OF Si[J].Journal of Xi'an Jiaotong University,1987(1).
Authors:Zhou Shilu Zhu Bingsheng Zhou Caidi Luo Jinsheng
Institution:Department of Electronic Engineering
Abstract:
Keywords:ion implantation  annealing
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号