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ZnS多晶薄膜的磁控溅射沉积及其性能研究
引用本文:肖心举,黎兵,江海波,杨慧敏,胡鹏臣,丁超,明振训,冯良桓,蔡亚平.ZnS多晶薄膜的磁控溅射沉积及其性能研究[J].西南民族学院学报(自然科学版),2013,39(2).
作者姓名:肖心举  黎兵  江海波  杨慧敏  胡鹏臣  丁超  明振训  冯良桓  蔡亚平
作者单位:四川大学材料科学与工程学院,四川成都,610064
基金项目:国家高新技术研究与发展计划(863计划)项目:Ⅱ-Ⅵ族单带差超晶格太阳电池技术
摘    要:采用磁控溅射法,在玻璃衬底上沉积了ZnS多晶薄膜,研究了衬底温度和Ar气流量对ZnS薄膜质量的影响.利用表面轮廓仪测量了薄膜的厚度,计算了薄膜的沉积速率.使用X射线衍射(XRD)分析了薄膜的微结构.通过紫外-可见光分光光度计测量了薄膜的透过谱,计算了禁带宽度.结果表明:所有制备的ZnS薄膜均为闪锌矿结构,所有样品在(111)方向具有明显的择优取向,沉积速率随着村底温度升高而降低,薄膜有较大的内应力,导致禁带宽度变窄.衬底温度为300℃时,薄膜的结晶质量最好.随着Ar气流量的增加,沉积速率增大,但薄膜的结构和光学性能都没有明显的变化.

关 键 词:多晶ZnS薄膜  磁控溅射  衬底温度

ZnS thin films prepared by RF magnetron sputtering and its properties
Abstract:
Keywords:
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