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微处理器指令译码功能测试的连环验证法
引用本文:谈文蓉,曹泽翰.微处理器指令译码功能测试的连环验证法[J].西南民族学院学报(自然科学版),1993(4).
作者姓名:谈文蓉  曹泽翰
作者单位:西南民族学院数学系,重庆大学计算机系
摘    要:提出了微处理器指令译码部分在受限验证思想下的一种改进测试方法——连环验证法,测试序列长度显著减少,故障覆盖率进一步提高。

关 键 词:功能测试  测试序列  故障覆盖率

The SOVM for Functional Testing of Microprocessor Instruction Decoding
Tan Wenrong.The SOVM for Functional Testing of Microprocessor Instruction Decoding[J].Journal of Southwest Nationalities College(Natural Science Edition),1993(4).
Authors:Tan Wenrong
Abstract:
Keywords:functional testing  testing sequence  fault coverage
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