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便携式半导体激光器特性参数测试仪的研制
引用本文:张婷,许文海.便携式半导体激光器特性参数测试仪的研制[J].大连海事大学学报(自然科学版),2007,33(z1):47-49.
作者姓名:张婷  许文海
作者单位:大连海事大学,信息工程学院,辽宁,大连,116026
摘    要:研制一种基于单片机控制的便携式半导体激光器特性参数测试仪.该仪器由硬件测试电路和上层软件测试系统组成,能够测试各种封装形式的LD电特性参数和特性曲线.包括自动电流控制(ACC)、自动电压控制(AvC)、自动功率控制(APC)和自动背向光电流控制(AMC)四种驱动方式;包括集成的温控电路,能够快速精确控制LD工作温度;保护电路可以使LD免受浪涌冲击等损害;上层软件系统可以很直观绘制LD的各种特性曲线.测试系统还具有体积小、携带方便、操作简单等优点.

关 键 词:半导体激光器  特性参数  驱动方式  温控电路
文章编号:1006-7736(2007)增-0047-03
修稿时间:2007年4月12日

Portable parameter testing device of semiconductor LD
ZHANG Ting,XU Wen-hai.Portable parameter testing device of semiconductor LD[J].Journal of Dalian Maritime University,2007,33(z1):47-49.
Authors:ZHANG Ting  XU Wen-hai
Abstract:
Keywords:
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