| 低温生长金刚石薄膜及其界面结构X—射线衍射研究 |
| |
| 引用本文： | 吕反修,蒋高松.低温生长金刚石薄膜及其界面结构X—射线衍射研究[J].北京科技大学学报,1992,14(4):423-429. |
| |
| 作者姓名： | 吕反修 蒋高松 |
| |
| 作者单位： | 北京科技大学材料科学与工程系
(吕反修，蒋高松)，北京科技大学材料科学与工程系(杨保雄) |
| |
| 摘 要： |
|
| 关 键 词： | 金刚石薄膜 界面 X－射线 衍射 薄膜 |
X-Ray Diffraction Study of the Interface Layer of Low Temperature Deposited Diamond Films |
| |
| Lu Fanxiu Jiang Gaosong Yang Baoxiong.X-Ray Diffraction Study of the Interface Layer of Low Temperature Deposited Diamond Films[J].Journal of University of Science and Technology Beijing,1992,14(4):423-429. |
| |
| Authors: | Lu Fanxiu Jiang Gaosong Yang Baoxiong |
| |
| Institution: | Lu Fanxiu Jiang Gaosong Yang Baoxiong Department of Materials Science and Engineering |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | diamond films low temperature deposition iaterface layer X-ray diffraction |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ |
