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基质掺杂离子对(Y,Rn)2O2S:Sm3+,Ti4+,Mg2+(Rn=La,Gd,Lu,Ga,Al)红色长余辉材料余辉性能的影响
引用本文:张栌丹,王明文,刘世香,张飞飞,李文军.基质掺杂离子对(Y,Rn)2O2S:Sm3+,Ti4+,Mg2+(Rn=La,Gd,Lu,Ga,Al)红色长余辉材料余辉性能的影响[J].北京科技大学学报,2008,30(1):49-52.
作者姓名:张栌丹  王明文  刘世香  张飞飞  李文军
作者单位:北京科技大学应用科学学院,北京,100083
基金项目:北京科技大学校科研和教改项目
摘    要:采用高温固相法制备了基质掺杂的(Y,Rn)2O2S:Sm3 ,Ti4 ,Mg2 (Rn=La,Gd,Lu,Ga,Al)红色长余辉材料,主峰均为4G5/2→6H7/2跃迁的红橙色光发射,不受基质掺杂的影响.余辉性能测试表明掺杂离子半径对余辉性能具有重要的影响:单掺时,与Y3 半径相近并略小时样品的余辉时间有正增长;双离子共掺时均为小半径的掺杂对余辉性能有显著的提高,其中之一半径较大时即具有负效应.并对可能存在的机理进行了初步探讨.

关 键 词:红色长余辉材料  基质掺杂  离子半径  余辉时间
收稿时间:2006-10-15
修稿时间:2006-12-01

Effect of host-doping ions on the afterglow property of (Y, Rn)2O2S:Sm3+, Ti4 +, Mg2+ (Rn = La, Gd, Lu, Ga, Al) red phosphors
ZHANG Ludan,WANG Mingwen,LIU Shixiang,ZHANG Feifei,LI Wenjun.Effect of host-doping ions on the afterglow property of (Y, Rn)2O2S:Sm3+, Ti4 +, Mg2+ (Rn = La, Gd, Lu, Ga, Al) red phosphors[J].Journal of University of Science and Technology Beijing,2008,30(1):49-52.
Authors:ZHANG Ludan  WANG Mingwen  LIU Shixiang  ZHANG Feifei  LI Wenjun
Abstract:
Keywords:red phosphor  host doped  ionic semi diameter  decay time
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