| 基于时间序列DTW差异的IGBT模块缺陷辨识方法 |
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| 引用本文： | 周生奇,周雒维,孙鹏菊.基于时间序列DTW差异的IGBT模块缺陷辨识方法[J].重庆大学学报(自然科学版),2013,36(9):89-95. |
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| 作者姓名： | 周生奇 周雒维 孙鹏菊 |
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| 作者单位： | 重庆大学 输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室，重庆 400044;重庆大学 输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室，重庆 400044;重庆大学 输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室，重庆 400044 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金面上项目(51077137)；国际科技合作计划资助项目(2010DFA72250) |
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| 摘 要： | 绝缘栅双极型晶体管(IGBT)模块是电力电子装置中关键可靠性敏感元件之一,辨识IGBT模块缺陷,是避免突发故障,增强电力电子装置可靠运行的重要举措之一。为此,笔者提出一种基于时间序列动态时间弯曲(DTW)差异的IGBT模块早期缺陷的诊断方法。该方法利用缺陷对IGBT模块门极寄生参数的影响,通过分析缺陷前后,门极电压信号序列DTW的差异,判断IGBT模块内部是否存在缺陷。实验研究结果验证了其诊断结论的正确性和实用性。
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| 关 键 词： | 缺陷 绝缘栅双极型晶体管 动态时间弯曲 时间序列 |
Study on diagnostic method for defects in an IGBT module based on DTW deviations of time series |
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| ZHOU Shengqi,ZHOU Luowei and SUN Pengju.Study on diagnostic method for defects in an IGBT module based on DTW deviations of time series[J].Journal of Chongqing University(Natural Science Edition),2013,36(9):89-95. |
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| Authors: | ZHOU Shengqi ZHOU Luowei and SUN Pengju |
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| Institution: | ZHOU Shengqi;ZHOU Luowei;SUN Pengju;State Key Laboratory of Power Transmission Equipment &System Security and New Technology,Chongqing University; |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | defect insulated gate bipolar transistor (IGBT) dynamic time warping(DTW) time series |
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