| 半狄氏型的符号光滑测度扰动 |
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| 引用本文： | 王玮,韩新方,马丽.半狄氏型的符号光滑测度扰动[J].北京交通大学学报(自然科学版),2015,39(6):126-130. |
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| 作者姓名： | 王玮 韩新方 马丽 |
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| 作者单位： | 海南师范大学数学与统计学院,海口,571158;海南师范大学数学与统计学院,海口,571158;海南师范大学数学与统计学院,海口,571158 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金，海南省自然科学基金 |
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| 摘 要： | 假设(Xt,Px)是与L2(E;m)上的半狄氏型((e),D((e)))相联系的右过程.μ为符号光滑测度,Aμt为μ对应的连续可加泛函.定义广义Feynman-Kac半群Pμtf(x)∶=Exe-tf(Xt)].设(e)μ(f,g)=(e)f,g)+(f,g)μ,(V)f,g∈D((e)μ)=D((e))∩L2(E,|μ|),我们得到以下两个命题等价:①((e)μ,D((e)μ))是下半有界的;②对任意的t＞0,存在一个常数α0≥0使得||Pμt|2≤eα0t.如果①和②中有一个成立,则(Pμt)t≥0是L2(E;m)上强连续的半群.
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| 关 键 词： | 半狄氏型 下半有界 广义Feynman-Kac半群 强连续性 |
Perturbation of semi-Dirichlet form by signed smooth measure |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | semi-Dirichlet form lower semi-boundedness generalized Feynman-Kac semigroups strong continuity |
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