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溅射法制备ZnS:Er^3+薄膜的微结构研究
引用本文:柳兆洪,陈谋智.溅射法制备ZnS:Er^3+薄膜的微结构研究[J].厦门大学学报(自然科学版),1997,36(5):693-695.
作者姓名:柳兆洪  陈谋智
摘    要:利用射溅射控溅射法制备掺铒硫化锌薄膜,用X射线衍射和X射线光电子能谱技术。研究薄膜微结构,发现薄膜中多晶沉积有择优取向趋势,掺杂的铒有表面集聚现象,这将对薄膜的发态产生影响。

关 键 词:微结构  溅射法  硫化锌  薄膜    半导体
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