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| 1.3μm InGaAsP激光器电光采样技术测量超快速电信号 | |
| 引用本文： | 孙伟,王艳辉,刘宗顺,贾刚,衣茂斌,高鼎三.1.3μm InGaAsP激光器电光采样技术测量超快速电信号[J].吉林大学学报(理学版),1991(1). |
| 作者姓名： | 孙伟 王艳辉 刘宗顺 贾刚 衣茂斌 高鼎三 |
| 作者单位： | 吉林大学电子科学系 (孙伟，王艳辉，刘宗顺，贾刚，衣茂斌)，吉林大学电子科学系(高鼎三) |
| 摘 要： | 研究超高速器件和微波集成电路瞬态特性需要在时间畴测量非常快的电信号,这对测量手段的时间分辨率提出了更高的要求。以实用的高速采样示波器(Tck7104,带S4采样头,上升时间为25ps)已经不能完全满足测量的需要。我们建造了1.3 μm InGaAsP激光器超高速电光采样测试装置,采样光源是1.3 μm增益开关InGaAsP/IaP激光器。如果用以Ⅲ-V族材料为衬底的高速集成电路芯片代替微带采样器,则可以实现对集成电路动态特性进行无触点检 |
| 关 键 词： | 电光采样 激光器 超高速器件 |
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