Ⅱ-Ⅵ族化合物半导体薄膜材料的热壁外延生长 |
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引用本文: | 孟庆巨,吴连民,黄瑛,杨慧,陈佰军,郎远涛.Ⅱ-Ⅵ族化合物半导体薄膜材料的热壁外延生长[J].吉林大学学报(理学版),1994(3). |
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作者姓名: | 孟庆巨 吴连民 黄瑛 杨慧 陈佰军 郎远涛 |
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作者单位: | 吉林大学分析测试实验中心,吉林工学院 |
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基金项目: | 国家自然科学基金,吉林省科委基金 |
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摘 要: | 本文利用改进了的热壁外延装置,在GaAs衬底上外延生长了GdTe,ZnSe,ZnSSe,ZnS等半导体单晶薄膜,ZnSe/ZnS,ZnSSe/ZnSe异质结构和ZnS/ZnSe,ZnSSe/ZnSe超薄层、多层结构。SEM,EMPA,XRD及PL等分析测试结果表明,所生长的半导体薄膜材料具有良好的结晶学性质和光学性质。
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关 键 词: | 新热壁外延生长装置,Ⅱ-Ⅵ族化合物,半导体薄膜材料,外延生长 |
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